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高频绝缘材料介电常数/介质损耗测试系统

更新时间:2018-04-19      点击次数:2965

高频绝缘材料介电常数/介质损耗测试系统

 

高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的*解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用QBG-3E或AS2853A数字Q表具有自动计算介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)。
 

AS2855介电常数/介质损耗测试系统系统组成:
1.主机:AS2853A/QBG-3E/QBG-3F

高频Q表


功能名称:    QBG-3E    QBG-3F    AS2853A
 

信号源范围DDS数字合成信号    10KHZ-70MHz    10KHZ-110MHz
    100KHZ-160MHz
信号源频率覆盖比    7000:1    11000:1    16000:1
信号源频率精度 6位有效数    3×10-5 ±1个字      3×10-5 ±1个字       3×10-5 ±1个字   
Q测量范围    1-1000自动/手动量程    1-1000自动/手动量程    1-1000自动/手动量程
Q分辨率    4位有效数,分辨率0.1    4位有效数,分辨率0.1    4位有效数,分辨率0.1
Q测量工作误差    <5%    <5%    <5%
电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH    1nH-8.4H , 分辨率0.1nH    1nH-8.4H  分辨率0.1nH    1nH-140mH分辨率0.1nH
电感测量误差    <5%    <5%    <5%
调谐电容    主电容30-540pF    主电容30-540pF    主电容17-240pF
电容直接测量范围    1pF~2.5uF    1pF~2.5uF    1pF~25nF

 

调谐电容误差
 

分辨率    ±1 pF或<1%
0.1pF    ±1 pF或<1%
0.1pF    ±1 pF或<1%
0.1pF

 

谐振点搜索    自动扫描    自动扫描    自动扫描
Q合格预置范围     5-1000声光提示    5-1000声光提示    5-1000声光提示
Q量程切换    自动/手动    自动/手动    自动/手动
LCD显示参数    F,L,C,Q,Lt,Ct波段等    F,L,C,Q,Lt,Ct波段等    F,L,C,Q,Lt,Ct波段等
自身残余电感和测试引线电感的
自动扣除功能()    有    有    有
大电容值直接测量显示功能()    测量值可达2.5uF    测量值可达2.5uF    测量值可达25nF
介质损耗系数    精度 万分之五    精度 万分之五    精度 万分之五
            
2.S916(数显)或S914介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:
固体:材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm (二选一)  
液体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)
3.LKI-1电感组
电感No    电感量    准确度%    Q值≥    分布电容约略值    谐振频率范围 MHz    适合介电常数测试频率
                    QBG-3E/F    AS2853A    
1    0.1μH    ±0.05μH    200    5pF    20~70    31~103    50MHz
2    0.5μH    ±0.05μH    200    5pF    10~37    14.8~46.6    15MHz
3    2.5μH    ±5%    200    5pF    4.6~17.4    6.8~21.4    10MHz
4    10μH    ±5%    200    6pF    2.3~8.6    3.4~10.55    5MHz
5    50μH    ±5%    200    6pF    1~3.75    1.5~4.55    1.5MHz
6    100μH    ±5%    200    6pF    0.75~2.64    1.06~3.20    1MHz
7    1mH    ±5%    150    8pF    0.23~0.84    0.34~1.02    0.5MHz
8    5mH    ±5%    130    8pF    0.1~0.33    0.148~0.39    0.25MHz
9    10mH    ±5%    90    8pF    0.072~0.26    0.107~0.32    0.1MHz
注意: 可定制100MHz电感. 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

附件 在高温下测试介电常数
     在高温下测试材料的介电常数需要有高温测试平台,以及特殊的耐高温测试夹具.再配合上Q表主机,以完成在高温下测试材料的介电常数.
     测试方法:把材料放在测试夹具的极片内上下夹住,然后把测试夹具放在高温测试平台内,通过引线连接测试夹具的信号输出段与Q表主机的电容接线柱.以此使Q表谐振,等到数据.

 

一  高温测试平台参数

    带升降高温测试平台是为高温材料电性能测试专门设计的高温环境。包括高温实验电炉、温度控制器、升降装置、温度传感器、石英玻璃杯、箱体等部件。
温度范围 RT1000℃ (根据不同型号,zui高温度不同)
探针数量 4
控温方式恒温、变温、
频率范围DC~50MHz
推荐型号: HTMS10Y11 10

 

 

 

 

二 高温测试夹具参数


   精密高温介电夹具是严格依据A S T M 1 5 0标准要求, 并针对高温环境进行设计, 用于测量材料的介电性能。由上电极调节装置、调节支撑架、样品平台、隔热层、接线盒组成
温度范围 RT~600℃~1000℃(根据不同型号,zui高温度不同)
校准频率 DC~30MHz
测试电极 2个测试电极+保护电极
电极直径 26.8mm
样品大小 厚度小于10 mm,直径5~40mm
终端连接 4*SMA母头
微调行程 10mm
外形尺寸 W180mm*H270mm*D300mm
重 量 4KG

 

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