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ET-2型电解测厚仪是结合国内外*技术的金属镀层电解测厚仪,具有结构良好,性能稳定可靠,功能齐全的特点。
ET-1型微电脑多功能库伦测厚仪是一代的金属镀层电解测厚仪。 电解测厚仪:是根据电化学中的库仑定理(Q=nF)与现代微电脑技术结合的产物,具有结构良好,性能稳定可靠,功能齐全的特点。对多数非合金型金属镀层厚度的测定适用.
ET-3型微电脑多功能库伦测厚仪是一代的金属镀层电解测厚仪,该仪器是根据电化学中的库仑定理(Q=nF)与现代微电脑技术结合的产物。 库伦测厚仪:具有结构良好,性能稳定可靠,功能齐全的特点。对多数非合金型金属镀层厚度的测定适用,是标准中*的一种镀层测厚方法一库仑法类仪器。
HQT-IC多层镍库仑法电解测厚仪 铜、镍、铬、锌、银、金、锡等镀层。包括复合镀2层或3层的每一层不同金属镀层的厚度也可测定.
UM-2超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。